简介:检测报告:导体材料检测检测周期:3-7个工作日(特殊样品、项目除外),可加急。报告样式:中英文、电子版、纸质版均可。检测费用:电议。百检第三方检测机构目前与全国多家实验室合作,为您的企业提供相关产品检测相关服务。工程师一对一服务,合作实验室拥有CMA、CNAS、CAL等资质,检测报告真实有效。检测项目:体积电阻率,单位长度电阻,抗拉强度和断裂伸长率试验,标准温度电阻,电导率,电阻率,直流电阻比率,
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检测报告:导体材料检测
检测周期:3-7个工作日(特殊样品、项目除外),可加急。
报告样式:中英文、电子版、纸质版均可。
检测费用:电议。
百检第三方检测机构目前与全国多家实验室合作,为您的企业提供相关产品检测相关服务。工程师一对一服务,合作实验室拥有CMA、CNAS、CAL等资质,检测报告真实有效。
检测项目:
体积电阻率,单位长度电阻,抗拉强度和断裂伸长率试验,标准温度电阻,电导率,电阻率,直流电阻比率,缠绕试验,质量电阻率,金属丝外径,金属护套厚度,铠装金属丝镀层重量试验,锡和银镀层连续性试验,镍镀层连续性试验,导电率,基体金属杂质含量钾、钠、钙、镁、铝、铬、铁、镍、铜、锌,工业硅中铁、铝、钙含量,碳化硅单晶抛光片微管密度,碳化硅单晶晶型,表面金属杂质含量钾、钠、钙、镁、铝、铬、铁、镍、铜、锌,电阻率电阻系数,荧光粉测定发射峰值波长、发光效能、光转化效率、量子效率、色品坐标、发射光谱、相对亮度,交流电压试验,直流电压试验,金属材料电阻率试验,选区电子衍射,表面粗糙度,平整度,结晶质量,方块电阻,迁移率和载流子浓度,外延片发光波长,表面缺陷,外延层厚度,外延层掺杂浓度,碳、硫,锂、铍、硼、氟、钠、镁、铝、锗、硫、磷、氯、钾、钙、钪、钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、镓、砷、硒、溴、铷、锶、钇、锆、铌、钼、钌、铑、钯、银、镉、铟、锡、锑、碲、碘、铯、钡、镧、铈、镨、钕、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥、铪、钽、钨、铼、锇、铱、铂、金、汞、铊、铅、铋、钍、铀
百检检测报告用途
销售:出具检测报告,提成产品竞争力。
研发:缩短研发周期,降低研发成本。
质量:判定原料质量,减少生产风险。
诊断:找出问题根源,改善产品质量。
科研:定制完整方案,提供原始数据。
竞标:报告认可度高,提高竞标成功率。
检测标准:
1、GB/T 20123-2006/ISO 15350:2000 钢铁 总碳硫含量的测定 高频感应炉燃烧后红外吸收法常规方法
2、GB/T 1551-2009 硅单品电阻率测定方法
3、GB/T 14634.2-2010 荧光粉测定发射峰值波长、发光效能、光转化效率、量子效率、色品坐标、发射光谱、相对亮度
4、ASTM B 193-20 电工导体材料电阻率标准试验方法 ASTM B193-20
5、GB/T 18907-2013 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法/
6、GB/T 12966:2008 铝合金电导率涡流测试方法
7、GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
8、GB/T 32651-2016 采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
9、GB/T 14634.1-2010 荧光粉测定发射峰值波长、发光效能、光转化效率、量子效率、色品坐标、发射光谱、相对亮度
10、AS/NZS1660.1:1998 电缆、电线和导体试验方法—导体和金属
11、GB/T 5838.3-2015 荧光粉测定发射峰值波长、发光效能、光转化效率、量子效率、色品坐标、发射光谱、相对亮度
12、SJ 21535-2018 电力电子器件用碳化硅外延片规范 SJ21535-2018
13、GB/T 351-2019 金属材料 电阻率测量方法
14、ASTMB193-16 电工导体材料电阻率标准试验方法
15、CSA22.2NO.0.3-09R2019 电线电缆试验方法
16、GB/T 30854-2014 LED发光用氮化镓基外延片 GB/T 30854-2014
17、AS/NZS 1660.1:1998 电缆、电线和导体试验方法—导体和金属 2
18、SJ 21535-2018 电力电子器件用碳化硅外延片规范 SJ 21535-2018
19、GB/T 24582-2009 表面金属杂质含量钾、钠、钙、镁、铝、铬、铁、镍、铜、锌
20、SJ/T 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法
百检检测流程:
1、百检客服确认检测需求(样品、项目、报告用途等)
2、安排对应工程师对接服务。
3、确认报价,签订合同,安排寄样检测。
4、实验室接收样品,根据需求开始检测。
5、完成检测,出具检测报告。
6、售后服务。
关于检测详细信息可先与百检客服联系,后续会安排对应工程师对接。百检第三方检测机构欢迎您的咨询,期待与您合作。
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