办理晶片测试报告 晶片测试项目及标准

检测目标：晶片测试

检测周期：常规检测3-10个工作日，可加急（特殊样品除外）。百检第三方检测机构能为企业、单位、公司、个体商户或是高校科研提供晶片测试服务。

晶片测试项目：

晶片测试等。(具体检测项目与工程师对接后确认)

检测报告：CMA/CNAS/CAL资质报告，支持扫码查询真伪。

晶片测试范围：

单晶片，硅晶片，纳米微针晶片，石英晶片，雾化器晶片，碳化硅晶片，led晶片，半导体晶片，砷化镓晶片等。

百检第三方检测机构可提供晶片测试报告办理服务，根据晶片测试报告用途，百检工程师会制定方案，包括晶片测试项目、标准。

详情请致电13148180553资讯，我们会根据您的实际产品需求进行安排。

晶片测试标准：

GB/T 5238-2019锗单晶和锗单晶片

GB/T 13387-2009硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法

GB/T 16595-2019晶片通用网格规范

GB/T 16596-2019确定晶片坐标系规范

GB/T 25188-2010硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法

GB/T 26066-2010硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法

GB/T 26070-2010化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法

GB/T 26071-2018太阳能电池用硅单晶片

GB/T 30118-2013声表面波(SAW)器件用单晶晶片规范与测量方法

GB/T 30866-2014碳化硅单晶片直径测试方法

GB/T 30867-2014碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法

GB/T 30868-2014碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法

GB/T 32278-2015碳化硅单晶片平整度测试方法

GB/T 32988-2016人造石英光学低通滤波器晶片

GB/T 34481-2017低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法

(实际检测方案所用标准需与工程师对接后确认)

晶片测试报告办理流程：

1、致电百检客服热线131-4818-0553，与客服沟通检测产品、需求等基本信息。

2、百检客服记录需求后，为客户分配工程师对接详细介绍后报价。

3、确认方案及报价后，签订合同，安排寄样检测。

4、实验室收到样品后，根据方案开始检测。

5、完成检测后，出具检测报告，如需纸质版则安排快递。

如果有加急需求，请提前告知工程师或客服。