办理硅片测试报告 硅片测试项目及标准

检测目标：硅片测试

检测周期：常规检测3-10个工作日，可加急（特殊样品除外）。百检第三方检测机构能为企业、单位、公司、个体商户或是高校科研提供硅片测试服务。

硅片测试项目：

电阻率测试，翘曲度测试，厚度测试，表面粗糙度测试，燃烧测试，弯曲度测试，平整度测试，绒面反射率测试，碳氧含量检测，压电系数测试，ECV测试，负载测试，硬度测试，抗弯强度测试，晶圆测试，表面杂质测试，表面有机物测试，少子寿命测试，颗粒度测试，表面接触角测试，(更多项目需求，您可咨询在线实验室工程师，为您详细解答。)硅片测试等。(具体检测项目与工程师对接后确认)

检测报告：CMA/CNAS/CAL资质报告，支持扫码查询真伪。

硅片测试范围：

单晶硅片，太阳能硅片，光伏硅片，半导体硅片，切割硅片，镀膜硅片，清洗硅片，抛光硅片等。

百检第三方检测机构可提供硅片测试报告办理服务，根据硅片测试报告用途，百检工程师会制定方案，包括硅片测试项目、标准。

详情请致电13148180553资讯，我们会根据您的实际产品需求进行安排。

硅片测试标准：

GB/T 29055-2019 太阳能电池用多晶硅片

GB/T 26068-2018 硅片和硅锭载流子复合寿命的测试　非接触微波反射光电导衰减法

GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

GB/T 32814-2016 硅基MEMS制造技术　基于SOI硅片的MEMS工艺规范

GB/T 24578-2015 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法

GB/T 32280-2015 硅片翘曲度测试自动非接触扫描法

GB/T 32281-2015 太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定　二次离子质谱法

GB/T 30859-2014 太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法

GB/T 30860-2014 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法

GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化　测试方法

GB/T 30701-2014 表面化学分析　硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定

GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法

GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试　自动非接触扫描法

GB/T 6616-2009 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法　非接触涡流法

GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定　扩展电阻探针法

GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法

GB/T 6619-2009 硅片弯曲度测试方法

(实际检测方案所用标准需与工程师对接后确认)

硅片测试报告办理流程：

1、致电百检客服热线131-4818-0553，与客服沟通检测产品、需求等基本信息。

2、百检客服记录需求后，为客户分配工程师对接详细介绍后报价。

3、确认方案及报价后，签订合同，安排寄样检测。

4、实验室收到样品后，根据方案开始检测。

5、完成检测后，出具检测报告，如需纸质版则安排快递。

如果有加急需求，请提前告知工程师或客服。