QB/T 1135一2006 首饰金、银覆盖层厚度的测定X射线荧光光谱法

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QB/T 1135一2006.Jewellery一Measurement of gold and silver coating tickness-X-ray fluorescence spectrometric methods.

1范围

QB/T 1135规定了用X射线荧光光谱法测量首饰金、银覆盖层厚度的方法。

QB/T 1135适用于首饰及其他工艺品中金、银等覆盖层厚度的测定(覆盖层与基体为非相同材质)。

注:本方法测定的覆盖层厚度相当于足金或足银的厚度，可根据实际金、银覆盖层含量进行折算。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注8期的引用文件，其最新版本适用于本标准。

QB 1131 首饰金覆盖层厚度的规定(ISO 10713:1992， MOD)

QB1132首饰银覆 盖层厚度的规定

3方法原理

采用X射线荧光光谱法测量金、银覆盖层厚度是通过检测和分析X射线荧光而确定覆盖层厚度的。每种元素的原子都具有其本身独有的电子排列，对于给定的特征X射线，其能量取决于该原子的原子序数，因此，不同的材料将产生不同能量的X射线荧光。通过X射线荧光测厚仪对不同材料发出的特征X射线荧光进行能量分辨和强度的检测，可以确定材料的特性，从而测定覆盖层厚度。

4仪器设备

4.1 X 射线荧光光谱仪。

4.2采用不同基体的覆 盖金、银镀层的标准样块。

4.3仪器自检的参考标样。

5仪器的校准

校准是仪器测量的先决条件，校准的目的是使被测样品覆盖层厚度对X射线荧光发射强度之间建立准确的关系。

5.1校准模式的选择

各类型的X射线荧光测厚仪都具有若干种校准模式，应按覆盖层和基材的类型选用适当的校准模式。

5.2校准模式的输入

选定相应的校准模式后，将采用相应的存储器按规程输入校准模式。当采用标准进行校准时，应采用与测试样品完全一-致的条件 (包括检测孔尺寸，相同覆盖层和基材及测量时间等)。在校准程序结束时，将自动进入测量模式。

(QB/T 1135一2006 首饰金、银覆盖层厚度的测定X射线荧光光谱法标准内容仅部分展示)

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