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硅外延片检测项目:
表面缺陷分析、背面边缘异常黑斑原因分析、晶体缺陷、均匀性、纵向电阻率、翘曲度非接触测试、电阻率、表面金属、正面质量、背面质量、表面颗粒等。 百检工程师会为您选择合适的检测项目,以满足您的报告需求,您可以来电将您的需求告知我们。
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硅外延片检测周期:
常规3-5个工作日,可加急,*快1.5个工作日(特殊样品除外)。百检检测流程:咨询客服——安排工程师——签订合同——寄样检测——出具报告。百检检测期待与您的合作。
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