办理HAST试验报告 HAST试验项目及标准

检测目标：HAST试验

检测周期：常规检测3-10个工作日，可加急（特殊样品除外）。百检第三方检测机构能为企业、单位、公司、个体商户或是高校科研提供HAST试验服务。

HAST试验项目：

HAST高压加速老化试验，HAST可靠性试验，HAST蒸汽老化试验，HAST加速老化试验，(更多需求，可咨询实验室工程师，为您一对一解答。)HAST试验等。(具体检测项目与工程师对接后确认)

检测报告：CMA/CNAS/CAL资质报告，支持扫码查询真伪。

HAST试验范围：

端子，PCB板，三极管，元器件，磁钢，半导体，芯片，集成电路，光伏组件，CVD封装，电子元件，对塑封器件，倒装焊等。

百检第三方检测机构可提供HAST试验报告办理服务，根据HAST试验报告用途，百检工程师会制定方案，包括HAST试验项目、标准。

详情请致电13148180553资讯，我们会根据您的实际产品需求进行安排。

HAST试验标准：

GB/T 4937.4-2012半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验(HAST)

BS EN 60749-4-2002半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:湿热,稳态,高加速应力试验(HAST)

BS EN 60749-24-2004半导体器件.机械和气候试验方法.加速耐湿性.无偏差HAST

CEI EN 60749-4-2004半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热、稳态、高加速应力试验(HAST)

CEI EN 60749-24-2012半导体器件.机械和气候试验方法.第24部分:加速防潮性.无偏差的HAST

DIN EN 60749-4-2003半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:湿热、稳态、高加速度作用(HAST)

DIN EN 60749-24-2004半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分:强化抗湿 无偏高速应力试验HAST

IEC 60749-4-2002半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:稳态湿热强加速应力试验(HAST)

IEC 60749-4 CORR 1-2003半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:湿热、稳态、高加速应力试验

IEC 60749-24-2004半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分:加速抗潮性 无偏强加速应力试验(HAST)

(实际检测方案所用标准需与工程师对接后确认)

HAST试验报告办理流程：

1、致电百检客服热线131-4818-0553，与客服沟通检测产品、需求等基本信息。

2、百检客服记录需求后，为客户分配工程师对接详细介绍后报价。

3、确认方案及报价后，签订合同，安排寄样检测。

4、实验室收到样品后，根据方案开始检测。

5、完成检测后，出具检测报告，如需纸质版则安排快递。

如果有加急需求，请提前告知工程师或客服。