办理光电子器件测试报告 光电子器件测试项目及标准

检测目标：光电子器件测试

检测周期：常规检测3-10个工作日，可加急（特殊样品除外）。百检第三方检测机构能为企业、单位、公司、个体商户或是高校科研提供光电子器件测试服务。

光电子器件测试项目：

封装测试，恒温恒湿测试，刻蚀测试，磁场效应测试，反射率测试，载流子寿命测试，辐射效应测试，柔性测试，光电子器件测试等。(具体检测项目与工程师对接后确认)

检测报告：CMA/CNAS/CAL资质报告，支持扫码查询真伪。

光电子器件测试范围：

硅基光电子器件，光电子器件组件，半导体光电子器件，纳米光电子器件，石墨烯光电子器件，集成电路光电子器件，柔性光电子器件，军工光电子器件等。

百检第三方检测机构可提供光电子器件测试报告办理服务，根据光电子器件测试报告用途，百检工程师会制定方案，包括光电子器件测试项目、标准。

详情请致电13148180553资讯，我们会根据您的实际产品需求进行安排。

光电子器件测试标准：

GB/T 21194-2007 通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求

YD/T 2342-2011 通信用光电子器件可靠性试验方法

YD/T 2001.2-2011 用于光纤系统的半导体光电子器件 第2部分：测试方法

GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范 (可供认证用)

YD/T 2001.1-2009 用于光纤系统的半导体光电子器件 第1部分:基本特性和额定值

SJ/T 11405-2009 光纤系统用半导体光电子器件.第2部分:测量方法

GJB 8119-2013 半导体光电子器件通用规范

GB/T 12560-1999 半导体器件 分立器件分规范

GB/T 15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分;光电子器件基本额定值和特性

GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分;光电子器件测试方法

GB/T 15651-1995 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件

(实际检测方案所用标准需与工程师对接后确认)

光电子器件测试报告办理流程：

1、致电百检客服热线131-4818-0553，与客服沟通检测产品、需求等基本信息。

2、百检客服记录需求后，为客户分配工程师对接详细介绍后报价。

3、确认方案及报价后，签订合同，安排寄样检测。

4、实验室收到样品后，根据方案开始检测。

5、完成检测后，出具检测报告，如需纸质版则安排快递。

如果有加急需求，请提前告知工程师或客服。